| 番号 | 903141000 |
| 品名 | 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイスの製造に使用するものに限る。）の検査用の機器 |
| 単位1 | |
| 単位2 | NO |
| 基本関税率 | 無税 |
| 暫定関税率 | |
| WTO協定関税率 | (無税) |
| 特恵関税率 | |
| 特別特恵関税率 | |
| Singapore関税率 | 無税 |
| Mexico関税率 | 無税 |
| Malaysia関税率 | 無税 |
| Chile関税率 | 無税 |
| Thailand関税率 | 無税 |
| Indonesia関税率 | 無税 |
| Brunei関税率 | 無税 |
| ASEAN関税率 | 無税 |
| Philippines関税率 | 無税 |
| Switzerland関税率 | 無税 |
| VietNam関税率 | 無税 |
| India関税率 | 無税 |
| Peru関税率 | 無税 |
| 1本上 | 903120000 - テストベンチ |
| 次の条 | 903149000 - その他のもの |
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